① 碳支持膜：膜厚大约10到20 nm，无微孔存在，适用于观察样品的一般结构，高倍率下会有较大的背底出现。
② 微栅膜：膜厚大约5到30 nm，上边有几百纳米到几微米大小不一的孔，适用于线状和片状样品，能够搭载在微栅孔中，高分辨观察时无背底出现。
③ 超薄碳膜：膜厚大约3到5nm，无微孔存在，适用于分散性好的纳米颗粒，高分辨观察时背底衬度低。
④ 纯碳膜：膜厚大约20到40 nm，无微孔存在，适用于分散样品的溶剂是能够溶解方华模的有机溶剂(氯仿，甲苯等)。
⑤ 氮化硅膜：膜厚大约5到100 nm，无微孔存在，适用于有酸性溶剂或需要高温处理的样品。
⑥ 石墨烯膜：膜厚一般小于1 nm，无微孔存在，一般用于要求背底衬低很低的样品。
注：用能谱分析铜元素时，不能选用铜载网膜，要选用镍、钼等其他材质的载网膜，同理分析碳元素时，要用氮化硅膜；在做高分子、生物样品切片后需要染色的要用裸网或微栅，因为染色剂通常会染方华膜。